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[发明专利]校准-CN201310684360.3有效
发明人： M·R·南特怀格;J·K·考科武里 -专利权人：安华高科技通用IP(新加坡)公司
申请日： 2013-12-13 - 公布日： 2018-02-27 - 主分类号： H04L25/06 文献下载
摘要：用于校准变频器技术用于减少变频器的输出端处的基于泄露的直流分量。
校准

[发明专利]校准-CN200680054898.4有效
发明人： D·J·墨菲;M·卡阿里;A·索尔瓦里;Y·宇塔拉 -专利权人：诺基亚公司
申请日： 2006-04-28 - 公布日： 2009-06-17 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：提供一种对设备进行校准的方法，包括：在设备的取景器中对对象进行成像；从定位装置获取设备位置，并且从定向装置获取设备朝向；以及使用所获取的设备位置和设备朝向来对定位装置和定向装置的一个或多个进行校准，从而减小取景器中对象的预期位置与取景器中对象的位置之间的差异
校准

[发明专利]多颗粒封装芯片的阻抗校准装置和方法-CN202310326033.4在审
发明人：岳慧源;刘飞;霍宗亮 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请公开一种多颗粒封装芯片的阻抗校准装置和方法，包括校准电阻和多个校准模块，校准电阻和多个校准模块连接，多个校准模块和多颗粒封装芯片中多个芯片颗粒一一对应；校准模块包括，利用校准电阻校准对应芯片颗粒的第一校准单元；在第一校准单元结束校准后，利用第一校准单元校准对应芯片颗粒的第二校准单元；当多个校准模块逐一用于校准对应的芯片颗粒时，除首个以外的每一校准模块的第一校准单元，均在前一校准模块的第一校准单元结束校准之后，第二校准单元结束校准之前开始校准。该装置校准多颗粒封装芯片时，不同校准模块之间第一校准单元和第二校准单元可以同时校准对应的芯片颗粒。所以本方案能缩短多颗粒封装芯片的阻抗校准用时。
颗粒封装芯片阻抗校准装置方法

[发明专利]时钟校准方法、电子设备及可读存储介质-CN202210356861.8在审
发明人：黄杰;韩潇俊;王建忠;赵言涛;胡忠勇;郑小平 -专利权人：威胜集团有限公司
申请日： 2022-04-06 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01R35/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种时钟校准方法、电子设备及可读存储介质，应用于时钟校准技术领域，包括：获取待校准目标在基础温度校准点下的粗调校准系数，基础温度校准点包括基础常温校准点和基础非常温校准点；依据待校准目标的实时温度和所述粗调校准系数的对应关系，确定待校准目标的粗调校准曲线，粗调校准曲线用于对所述待校准目标进行粗调补偿；获取待校准目标在精调温度校准点下的精调校准系数；依据待校准目标的实时温度，对精调校准系数和粗调校准曲线进行融合，得到待校准目标的精调校准曲线，精调校准曲线用于对所述待校准目标进行精调补偿；依据精调校准曲线，校准待校准目标。本发明解决了现有技术中电能表的时钟校准精度较低的技术问题。
时钟校准方法电子设备可读存储介质

[实用新型]一种固定钢构焊接定位装置-CN201720406343.7有效
发明人：陈建忠;张伟 -专利权人：江苏卓茂智能科技有限公司
申请日： 2017-04-18 - 公布日： 2017-12-08 - 主分类号： B23K37/04 文献下载
摘要：本实用新型提供一种固定钢构焊接定位装置，包括二平行相对设置的侧校准板以及垂直于侧校准板的纵校准板；各侧校准板均包括弧形校准边、垂直校准边，弧形校准边与垂直校准边互为相邻边，垂直校准边所在直线经过弧形校准边的弧心；各侧校准板配置均第一螺孔校准孔；一侧校准板在另一侧校准板所在平面的投影与另一侧校准板重合；纵校准板一侧固定于一侧校准板的垂直校准边，纵校准板另一侧固定于另一侧校准板的垂直校准边；纵校准板配置第二螺孔校准孔本实用新型两侧的侧校准板设置的弧形校准边配合预设的管件，用于定位位于侧校准板的第一螺孔校准孔和位于纵校准板的第二螺孔校准孔。
一种固定焊接定位装置

[实用新型]一种校准装置及测试机-CN202122972603.6有效
发明人：袁绩;常远 -专利权人：苏州维嘉科技股份有限公司
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01R35/02 文献下载
摘要：本实用新型属于校准技术领域，公开了一种校准装置及测试机，校准装置包括位置校准件和阻抗校准组件，位置校准件设置有多个，至少一个位置校准件用于校准位于位置校准件上方的探头的探针，至少一个位置校准件用于校准位于位置校准件下方的探头的探针；阻抗校准组件包括校准板、设置在校准板上的测量点、以及电连接测量点的校准件，位于校准板的上方或者下方的探头均能够抵接于测量点。设置有多个位置校准件，当需要校准位于位置校准件上方或者下方的探头时，将镜头与探头设置在位置校准件的同一侧，位置校准件测量探头的两个探针之间的间距，从而校准了探头。
一种校准装置测试

[发明专利]天线校准方法、装置和远程射频单元-CN202111164967.X在审
发明人：向莉;崔宏旺;樊柯延;郭燕;温龙 -专利权人：深圳市中兴微电子技术有限公司
申请日： 2021-09-30 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： H04B17/12 文献下载
摘要：本申请提出一种天线校准方法、装置和远程射频单元，属于通信技术领域。该方法包括：生成待校准通道的校准序列；根据获取到的待校准通道的校准配置信息和待校准通道的输出序列，确定待校准通道的校准响应序列；根据待校准通道的校准响应序列和待校准通道的校准序列，对待校准通道进行校准。该方法无需通过其他系统或功能模块获取校准序列，可以减少与其他功能实体的交互，简化校准流程；而且可以获得准确性更高的待校准通道的校准响应序列，从而有效提高对待校准通道的校准准确度，提高天线的整体校准准确度
天线校准方法装置远程射频单元

[实用新型]高精度数控辊轧直径校准系统-CN201820861514.X有效
发明人：刘源 -专利权人：北京中科三维科技有限公司
申请日： 2018-06-05 - 公布日： 2019-03-29 - 主分类号： B21D3/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种高精度数控辊轧直径校准系统,包括：校准底座，所述校准底座上设有校准滑块I、校准滑块II，所述校准滑块I、校准滑块II通过校准线轨I、校准线轨II安装在校准底座上，所述校准滑块I、校准滑块II上设有螺孔，螺孔内设有校准丝杠，所述校准丝杠一端安装在校准调整电机上，校准滑块I上设有数控巡边校准轮I、校准滑块II上设有数控巡边校准轮II，数控巡边校准轮I、数控巡边校准轮II设置在待加工工件的内外两侧，数控巡边校准轮I、数控巡边校准轮II安装在校准驱动轴上，本实用新型将数控巡边校准轮I、数控巡边校准轮II设置在待加工工件的内外两侧，可以实现精确校正钣金直径、内径，而且，可以根据需求提高设备的适用范围
校准数控滑块底座本实用新型待加工工件校准系统校准线辊轧螺孔丝杠调整电机驱动轴校正钣金

[发明专利]一种等直径杆同轴校准装置-CN201811326815.3有效
发明人：郝鹏飞;杨晓论;李成;李振凯;邹仁成;陈越;代凯奇;李涛;陈彦武 -专利权人：郝鹏飞
申请日： 2018-11-08 - 公布日： 2020-11-24 - 主分类号： B23P19/10 文献下载
摘要：一种等直径杆同轴校准装置，属于机械工程、力学性能测试和管路磨料流清洁技术领域，解决等直径杆同轴校准精度差和校准后固定时产生紧固跑偏现象的问题，解决方案为：本校准装置包括校准基座、校准工位和弹性校准托盘总成，校准基座包括水平校准基座和竖直校准基座，水平校准基座上沿校准基座的长度方向设置有通槽，水平弹性校准托盘总成设置于通槽的底部；校准基座上沿通槽的轴线方向布置有至少两个校准工位，所述校准工位包括校准支架、基准校验尺和校准螺栓，两个校准支架分别设置于校准工位的首尾两端，调节基准校验尺和校准螺栓的相对位置，实现至少两根等直径杆同轴校准。本发明校准精度高，操作简单，有效降低了同轴校准时的误差。
一种直径同轴校准装置

[发明专利]电流校准电路-CN202210566969.X在审
发明人：王超 -专利权人：北京芯通未来科技发展有限公司
申请日： 2022-05-24 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G05F1/567 文献下载
摘要：本申请涉及一种电流校准电路，包括校准偏置电流生成模块及控制模块，校准偏置电流生成模块与待校准电流源连接，用于生成校准偏置电流；其中，校准偏置电流包括温度校准偏置电流及输出校准偏置电流，温度校准偏置电流用于补偿待校准电流源因温度变化导致的电流偏差，输出校准偏置电流用于补偿待校准电流源因输出电流的绝对值变化导致的电流偏差；控制模块分别与校准电流生成模块、待校准电流源连接，用于根据校准偏置电流对待校准电流源的输出电流进行校准。上述电流校准电路中，通过设置校准偏置电流生成模块，生成跟踪温度变化和输出电流的混合校准偏置电流，以校准因实时温度变化和工艺失配造成的输出电流偏差，使校准过程快速高效。
电流校准电路

[发明专利]突发接收光功率校准方法及装置-CN201810510509.9有效
发明人：方刘海;徐元 -专利权人：武汉华工正源光子技术有限公司
申请日： 2018-05-24 - 公布日： 2020-01-31 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本发明提供了一种突发接收光功率校准方法及装置，方法包括：对待校准终端的每一预设校准功率点进行校准，得到待校准终端在每一预设校准功率点的校准ADC值，针对每一预设经验校准区间，获得该预设经验校准区间的预设斜率，并利用所获得的预设斜率和待校准终端在该预设经验校准区间内的预设校准功率点的校准ADC值，计算待校准终端在各个目标校准功率点的校准ADC值，其中，各个目标校准功率点为：该预设经验校准区间内除预设校准功率点以外的各个校准功率点应用本发明实施例提供的技术方案，提高了对突发接收光功率校准的效率。
校准预设功率点经验校准光功率校准突发接收终端目标校准应用

[发明专利]天线校准方法、装置、存储介质及电子设备-CN202111356365.4在审
发明人：熊建才;刘爱杰;张进光;钱大友 -专利权人：广东明创软件科技有限公司
申请日： 2021-11-16 - 公布日： 2023-05-19 - 主分类号： H04B17/12 文献下载
摘要：本申请提供一种天线校准方法、装置、存储介质及电子设备，天线校准方法包括：根据同一射频通路传输的多个校准信号的频段，确定目标校准频段，目标校准频段与其他校准信号的频段相交；在当前校准信号由射频通路传输时，获取当前校准信号的当前频段；在当前频段为目标校准频段时，对当前校准信号执行校准操作并输出第一校准结果；在当前频段不为目标校准频段时，停止对当前校准信号执行校准操作，并直接输出第一校准结果。从而，本申请的天线校准方法，既可以保证校准的准确性，也可以提高校准效率。
天线校准方法装置存储介质电子设备

[发明专利]一种二次雷达相控阵天线的智能自适应校准方法-CN202011045743.2在审
发明人：蒋鑫;陈伟;张银;杨见 -专利权人：四川九洲空管科技有限责任公司
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2021-01-26 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种二次雷达相控阵天线的智能自适应校准方法，二次雷达相控阵天线包括天线阵列、包括多路独立的通道的数字收发组件和校准源，该方法包括初始校准流程；初始校准流程包括：利用定向天线发射的方波信号进行校准得到接收外校准补偿系数；利用校准源发射校准脉冲、多路通道接收校准脉冲进行校准得到接收内校准补偿系数；利用控制多路通道依次发射校准脉冲、校准源接收校准脉冲进行校准得到发射内校准补偿系数；根据接收外校准补偿系数和接收内校准补偿系数计算得到发射外校准补偿系数和天线校准耦合系数，将接收外校准补偿系数和发射外校准补偿系数补偿到多路通道中。本发明能够在外场使用过程中对通道幅相特性进行自动校准。
一种二次雷达相控阵天线智能自适应校准方法

[发明专利]SAR ADC电容失配数字校准方法-CN202310381370.3在审
发明人：周述;钟锦定 -专利权人：上海山景集成电路股份有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种SAR ADC电容失配数字校准方法，包括确定目标SAR ADC中待校准DAC电容阵列的电容校准位数，基于电容校准位数配置校准DAC和耦合电容并形成校准SAR ADC；基于电容校准位数确定待校准DAC电容阵列中的目标电容组和校准目标电容，并将待校准DAC电容阵列中校准位电容拆分为多个校准目标电容；按预设校准方式，通过校准SAR DAC获取待校准DAC电容阵列中每个校准目标电容、每个非校准位电容以及目标电容组的目标输出值，并获取待校准DAC电容阵列中每个校准位电容的权重和每个非校准位电容的权重；基于获取权重对目标SAR ADC的输出进行校准。本发明校准方法能够有效校准SAR ADC中DAC的失配，从而实现对SAR ADC性能的优化。
sar adc 电容失配数字校准方法

[发明专利]方位校准方法及装置-CN201610843778.8有效
发明人：宋夏;汪航 -专利权人：广州视源电子科技股份有限公司
申请日： 2016-09-21 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种方位校准方法及装置，首先获取第一设备自身的待校准方位信息，并向第二设备发送校准请求，第二设备响应该校准请求执行方位校准并向第一设备发送其执行方位校准后的校准方位信息，第一设备接收第二设备响应校准请求执行方位校准后的校准方位信息，并获取第一设备与第二设备的预设相对方位，再根据待校准方位信息、校准方位信息以及预设相对方位执行方位校准。通过上述方位校准方法及装置对第一设备进行方位校准时，无需启动第一设备在场地内进行来回移动实现校准，只需接收第二设备执行方位校准后的校准方位信息，根据该校准方位信息、第一设备的待校准方位信息以及相对方位进行方位校准即可，简化校准过程，提高校准效率。
方位校准方法装置

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